Algorithmes EM et SEM pour un mélange censuré de distributions de défaillances. Application à la fiabilité d'équipements électroniques en période de jeunesse
Chauveau, Didier
Revue de Statistique Appliquée, Tome 40 (1992), p. 67-76 / Harvested from Numdam
Publié le : 1992-01-01
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Chauveau, Didier. Algorithmes EM et SEM pour un mélange censuré de distributions de défaillances. Application à la fiabilité d'équipements électroniques en période de jeunesse. Revue de Statistique Appliquée, Tome 40 (1992) pp. 67-76. http://gdmltest.u-ga.fr/item/RSA_1992__40_2_67_0/

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