Plans d'échantillonnage double par mesures avec une seule limite de tolérance et une caractéristique de qualité normalement distribuée
Sturhahn, Jürgen
Revue de Statistique Appliquée, Tome 26 (1978), p. 45-57 / Harvested from Numdam
Publié le : 1978-01-01
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Sturhahn, Jürgen. Plans d'échantillonnage double par mesures avec une seule limite de tolérance et une caractéristique de qualité normalement distribuée. Revue de Statistique Appliquée, Tome 26 (1978) pp. 45-57. http://gdmltest.u-ga.fr/item/RSA_1978__26_1_45_0/

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[6] Sturhahn J. - Doppelstichprobenpläne für messende Prüfung, Diss. RWTH Aachen, 1976.

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