Une extension de l'approche résistance/contrainte appliquée à la modélisation des lois de défaillance des composants électroniques
Ringler, J.
Revue de Statistique Appliquée, Tome 31 (1983), p. 19-42 / Harvested from Numdam
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Publié le : 1983-01-01
@article{RSA_1983__31_2_19_0,
     author = {Ringler, J.},
     title = {Une extension de l'approche r\'esistance/contrainte appliqu\'ee \`a la mod\'elisation des lois de d\'efaillance des composants \'electroniques},
     journal = {Revue de Statistique Appliqu\'ee},
     volume = {31},
     year = {1983},
     pages = {19-42},
     zbl = {0569.90028},
     language = {fr},
     url = {http://dml.mathdoc.fr/item/RSA_1983__31_2_19_0}
}

Ringler, J. Une extension de l'approche résistance/contrainte appliquée à la modélisation des lois de défaillance des composants électroniques. Revue de Statistique Appliquée, Tome 31 (1983) pp. 19-42. http://gdmltest.u-ga.fr/item/RSA_1983__31_2_19_0/

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