Plans d'échantillonnage progressifs par attributs. Application aux plans normalisés MIL-STD 105 D
Vessereau, A.
Revue de Statistique Appliquée, Tome 30 (1982), p. 5-20 / Harvested from Numdam
Access to full text
Full (PDF)
Full (DJVU)
Publié le : 1982-01-01
@article{RSA_1982__30_2_5_0,
     author = {Vessereau, Andr\'e},
     title = {Plans d'\'echantillonnage progressifs par attributs. Application aux plans normalis\'es MIL-STD 105 D},
     journal = {Revue de Statistique Appliqu\'ee},
     volume = {30},
     year = {1982},
     pages = {5-20},
     zbl = {0541.62087},
     language = {fr},
     url = {http://dml.mathdoc.fr/item/RSA_1982__30_2_5_0}
}

Vessereau, A. Plans d'échantillonnage progressifs par attributs. Application aux plans normalisés MIL-STD 105 D. Revue de Statistique Appliquée, Tome 30 (1982) pp. 5-20. http://gdmltest.u-ga.fr/item/RSA_1982__30_2_5_0/

[1] Wald A. - Sequential analysis. John Wiley & Sons, London & New-York, (1947). | MR 20764 | Zbl 0029.15805

[2] Wetherill - Sequential methods in statistics. Traduction française par P. Gabe "Méthodes séquentielles en statistique" Dunod, Paris (1969).

[3] INDIAN STANDARD - IS.2500 (Part I). Inspection by attributes and by count of defects (1973).